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新聞 台積電公布 N2（2nm）製程缺陷率：表現優於 3nm、5nm、7nm KKJ 發表於 2025年4月29日 10:30 Plurk 台積電N2製程導入GAAFET技術，試產缺陷率表現優異，媲美N5/N4，預計年底量產。晶片產量提升是降低缺陷率關鍵。
